设备名称：	高分辨透射电子显微镜(HRTEM)
型    号：	JEM-2100(UHR)	产  地：	日本JEOL
价    值：	350万元	购置年份：	2010年4月
主要技术参数：	1. 加速电压：80 200KV； 2. 最高放大倍数：150万倍；    3. 分辨率：点分辨率为0.19nm，晶格分辨率为0.14nm； JEM-2100高分辨透射电镜采用MS Windows™为基本操作界面，操作直观简便，不但具有优秀的电子光学系统，实现了计算机控制，还可以实现X-射线能谱仪(EDS)一体化控制，进行微区元素分析。
应用领域：	可以用于半导体工业、材料（金属、非金属）、生物医学、化工等领域的显微组织观察及衍射标定。由于其采用高亮度、高稳定性的LaB6电子枪，不但容易获得高分辨图像，还可以在进行纳米级高灵敏度分析时发挥巨大威力，同时对于纳米碳管、高分子材料等容易受强电子束损伤的材料，又能够非常方便地调整到最佳加速电压。与能谱仪结合，还可以在观察组织的同时进行材料的微区成分、点成分及元素的面分布等分析。